Nyhedsartikler

VÆLG INTERVAL
RSS
2021
Foto: Colourbox.
23 FEB

Billeddannelse af grafen baner vejen for industrialisering

Ny standard til analyse af grafen kan optimere fremstillingen og øge tilliden til nye teknologier baseret på 2D materialer.

Mikro- og nanoteknologi Elektromagnetisme Billedanalyse Materialer
2018
Grundstoffet silicium er grundlaget for stort set al mikroelektronik. Kæmpestore krystaller af ultrarent silicium med en diameter på op til 30 cm dyrkes og skæres i tynde skiver af Topsil GlobalWafers. Siliciumskiverne bruges af verdens førende elektronikproducenter, som bygger integrerede kredsløb i ultratynde lag på overfladen. Firmaet Capres producerer avanceret måleudstyr, der kan karakterisere de elektriske egenskaber af kredsløbene. Med ny laserteknologi fra NKT Photonics og optisk sensorteknologi fra DTU vil TRIM-projektet udvikle kontaktløse målemetoder til kvalitetssikring af både det rene silicium-materiale og under udviklingen af næste generations integrerede kredsløb. Foto: Lars Dalby Nielsen.
20 DEC

Bedre karakterisering af ultratynde materialer

Ny optisk teknologi kan revolutionere halvlederindustrien og skabe helt nye muligheder inden for bæredygtig elektronik og datahåndtering. Projektet er stø...

Halvledere Materialer Dataanalyse Elektronik Innovation og produktudvikling